Zu meinen Favoriten hinzufügen
Automatische Übersetzung anzeigen
Dies ist eine automatisch generierte Übersetzung. Wenn Sie auf den englischen Originaltext zugreifen möchten,
klicken Sie hier
#Produkttrends
{{{sourceTextContent.title}}}
NEU: Rasterelektronenmikroskop mit fokussierter Ionenprüfspitze durch Hitachi High-Technologies Europa
{{{sourceTextContent.subTitle}}}
In Richtung zum entscheidenden TEM Beispielvorbereitungssystem
{{{sourceTextContent.description}}}
FIB-SEM Systeme sind ein unentbehrliches Werkzeug für Kennzeichnung geworden und Analyse der spätesten Technologien und Hochleistungs- nano-stufen Materialien ein. Eine ständig steigende Nachfrage nach ultradünnen TEM Lamellen ohne Kunstprodukte während der FLUNKEREI-Verarbeitung erfordern das Beste in den Ionen- und Elektronoptiktechnologien.
Hitachis NX2000 Hochleistungs- FLUNKEREI und hohes Entschließung SEM-System mit seinem einzigartigen Beispiellagebestimmung control* und dreifachen beam* Technologien, Stützhoher Durchsatz und Vorbereitung der Qualitäts TEM Beispielfür innovative Anwendungen.
* Wahl