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#Produkttrends
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Ångström hat ein neues Modell des Multifunktionsüberprüfungssonden-Mikroskops freigegeben
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Ångström hat ein neues Modell des Multifunktionsüberprüfungssonden-Mikroskops freigegeben
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Einleitungen
Ist Multifunktionsüberprüfungsmikroskop der sonden-AA5000 modernes erneuertes AFM/SPM Modell des Ångströms. AA5000 kennzeichnet eine volle Deckung von AFM/SPM EIGENSCHAFTSTM, von AFM, von LFM leitfähiges AFM, von MFM, von EFM, von Umgebungskontrolle SPM und von Nano--Verarbeitung… AA5000 ist entworfen, um Bilder der Atomskala zur Verfügung zu stellen bis 100 Mikrometer. Mit einem digitalen Signalprozessor (DSP) TMS320C642 innerhalb des Systems, kann AA5000 schwierige Multifunktionsaufgaben leistungsfähig behandeln. Ein Realzeitbetriebssystem von SPM/DNA wird in System AA5000 SPM eingebettet.
Eigenschaften
Multifunktions: AFM, LFM, STM, leitfähiges AFM, MFM und EFM;
In mehreren Betriebsarten: In Verbindung tretender Modus, klopfender Modus, Phasen-Darstellung und anhebender Modus;
SPM kann in der Flüssigkeit sein;
Realzeittemperatur- und Feuchtigkeitsentdeckung;
Kraft-Analyse: I-V Curve, I-Z Curve, Kraft-Kurve und Umfangs-Kurve;
Nano--Verarbeitung und Manipulierung: Lithographie-Modus-und Vektor-Scan-Modus;
Schnell automatisch Spitze-engagierend
Einfach Änderung des Spitzenhalters, zum zwischen STM und AFM zu schalten;
Volle digitale Steuerung, Selbstsystemstatusanerkennung;
Justierbares erleichterndes Innere
Mit einem 32-Bit-digitalen Signalprozessor (DSP) von Texas Instruments, können 4,8 Milliardemal der Berechnung pro zweites erzielt werden;
Prüfer und Computer angeschlossen durch ein 10M/100M Fast Ethernet;
Große Mustergröße: bis zu Durchmesser 45mm, 30mm dick;
On-line-Steuer-Software und Offlinebildverarbeitungs-Software für Windows;
Spur-verfolgen Sie Scan, Zurück-Vorwärtsscan zurück;
On-line-- Realzeit-Bild 3D;
Automatisch Helligkeit und Kontrast erneuern;
Daten können für weitere Analyse heraus geladen werden;
Nano--Filmfunktion: Ununterbrochene Datenerfassung, Speicher und Wiedergabe;
Multi-Analyse: Körnigkeit und Rauheit;
Spitzen-Schätzung und Bild-Rekonstruktion;
Modularisierter Entwurf für Bequemlichkeit der Wartung und der Zukunftverbesserung;
Zweiter Anzeigenmonitor und optisches Mikroskopsystem verknüpfbar;