Anwendungsfälle | Anwendung von Field Emission SEM in elektrolytischen Kupferfolien

Anwendung des Feldemissions-SEM bei elektrolytischer Kupferfolie

In der Werkstoffkunde bestimmen die Zusammensetzung und die Mikrostruktur die mechanischen Eigenschaften. Das Rasterelektronenmikroskop (REM) ist ein häufig verwendetes wissenschaftliches Instrument für die Oberflächencharakterisierung von Werkstoffen, mit dem die Oberflächenmorphologie von Kupferfolie und die Verteilung der Körner beobachtet werden kann.