CIQTEK FIB SEM Praktische Demonstration - Präparation von Nano-Mikropillar-Proben - Hefei, Anhui, China

Aussteller werden

{{>currencyLabel}}
- Zurück

Deutsch
- Zurück
- English
- Français
- Español
- Italiano
- 中文
- 日本語
- português
- Русский

Ihre letzten Suchanfragen Löschen

Häufige Suchanfragen

Vorschläge

Sonstige Rubriken

{0} in Katalogen suchen {0} in Projekten suchen {0} in News & Trends suchen

Marken, die {0} enthalten

News & Trends >
Neues aus der Industrie >
Metrologie - Labortechnik >
CIQTEK Co., Ltd. >
CIQTEK FIB SEM Praktische Demonstration - Präparation von Nano-Mikropillar-Proben

Zu meinen Favoriten hinzufügen

Automatische Übersetzung anzeigen

#Neues aus der Industrie

{{{sourceTextContent.title}}}

{{{sourceTextContent.subTitle}}}

{{{sourceTextContent.description}}}

Die Präparation von Nano-Mikropillar-Proben wurde erfolgreich durchgeführt, was die leistungsstarken Fähigkeiten des CIQTEK Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope bei der Bearbeitung und Analyse im Nanobereich unter Beweis stellt. Die Leistung des Produkts bietet präzise, effiziente und multimodale Testunterstützung für Kunden, die sich mit nanomechanischen Tests befassen, und ermöglicht so bahnbrechende Fortschritte in der Materialforschung.

Mehr Informationen

Infos

Hefei, Anhui, China

CIQTEK Co., Ltd.

Verwandte Trends

Mehr Informationen

Weltweit wurden bereits über zehn kryogene SNVMs erfolgreich ausgeliefert. CIQTEK lädt Sie herzlich ein, unseren Stand (Nr. 4) auf der IcAUMS International Conference zu besuchen.

CIQTEK konzentriert sich auf Kerntechnologien der Präzisionsmessung und engagiert sich intensiv in der Entwicklung hochwertiger wissenschaftlicher Instrumente. Das Hauptgeschäft umfasst die Bereitstellung von Schlüsselgeräten und -ausrüstung für verschiedene Branchen. Im Jahr 2023CIQTEK Die Niedertemperaturversion des SNVM wurde weltweit erstmals entwickelt. Sie kann die...

Mehr Informationen

USTC-Team „AM“ | CIQTEK SEM unterstützt die mikroskopische Morphologieanalyse von Kaliummetallanoden

Das Team von Professor Yan Yu am USTC nutzte Die CIQTEK SEinmachenEElektronMMikroskop SEM3200 um die Morphologie nach dem Zyklus zu untersuchen. Es wurde amorpher Kohlenstoff mit kontrollierbaren Defekten als Kandidatenmaterial für eine künstliche Grenzflächenschicht entwickelt, die Kaliumophilie und katalytische Aktivität in Einklang bringt. Diese Forschung mit dem Tit...

Mehr Informationen

Zugeordnete Produkte

Rasterelektronenmikroskop mit fokussierter Ionensonde

DB550

Vergleichen

Vergleichsliste löschen

Bis zu 10 Produkte vergleichen