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CIQTEK FIB SEM Praktische Demonstration - Präparation von Nano-Mikropillar-Proben

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CIQTEK FIB SEM Praktische Demonstration - Präparation von Nano-Mikropillar-Proben

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Die Präparation von Nano-Mikropillar-Proben wurde erfolgreich durchgeführt, was die leistungsstarken Fähigkeiten des CIQTEK Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope bei der Bearbeitung und Analyse im Nanobereich unter Beweis stellt. Die Leistung des Produkts bietet präzise, effiziente und multimodale Testunterstützung für Kunden, die sich mit nanomechanischen Tests befassen, und ermöglicht so bahnbrechende Fortschritte in der Materialforschung.