CIQTEK-Rasterelektronenmikroskop ermöglicht Qualitätsverbesserung der „Super-Nanobeschichtung“

CIQTEK-Rasterelektronenmikroskop ermöglicht Qualitätsverbesserung der „Super-Nanobeschichtung“

Wir stellen vor: CIQTEK Wolframfilament Scanning Elektron Microskop SEM3200 liefert Forschern klare Bilder im Nanomaßstab und ermöglicht es ihnen, die Mikrostruktur und Morphologie der Beschichtungsschichten visuell zu untersuchen. Darüber hinaus ermöglicht das ausgestattete Energiedispersive Spektrometer (EDS) eine präzise Analyse der Materialzusammensetzung und Elementverteilung und steuert so effektiv die Prozessoptimierung in Forschung und Entwicklung.