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#Neues aus der Industrie
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Fallstudie - Navitas erweitert Halbleiter-Testkapazitäten mit ipTEST M2 Generatoren und MPI TS2500 Probe System
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Effizienz- und Präzisionssteigerung in der SiC-Chip-Produktion mit hohen Stückzahlen
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Navitas wurde 2014 gegründet und steht an der Spitze der SiC- und GaN-Leistungshalbleitertechnologie. Das Unternehmen revolutioniert die Leistungselektronik mit hocheffizienten, kompakten Lösungen für alle Anwendungen von Schnellladegeräten bis hin zu Elektrofahrzeugen. Durch strenge Gerätetests stellt Navitas die Zuverlässigkeit, Leistung und Sicherheit seiner bahnbrechenden Halbleiter sicher, setzt neue Industriestandards und verdient sich das Vertrauen von Kunden weltweit. Dieses Engagement für Qualität ist der Grund, warum Branchenexperten Navitas immer wieder für ihre anspruchsvollsten Anforderungen an die Leistungselektronik wählen.
Dieses Engagement für Qualität und Leistung hat Navitas weltweit zu einem bevorzugten Partner für High-End-Leistungselektroniklösungen gemacht.
Integrierte Halbleitertestlösungen für die skalierbare SiC-Fertigung.
Zur Erweiterung und Stärkung seiner Halbleitertestkapazitäten hat Navitas die ipTEST M2 Testplattform eingesetzt, die nahtlos mit zwei MPI TS2500 Waferprobern integriert ist. Diese Kombination bildet eine vollständig optimierte Wafer-Testzelle mit hohem Durchsatz, die speziell für die Anforderungen der hochvolumigen SiC-Chip-Herstellung entwickelt wurde.
Diese strategische Investition spiegelt das kontinuierliche Engagement von Navitas für Spitzenleistungen im Halbleitertest wider und bringt messbare Verbesserungen in Bezug auf Testpräzision, Betriebseffizienz und Durchsatz.
Das integrierte System ermöglicht das Testen von ca. 40.000 bis 50.000 SiC-Wafern pro Jahr und unterstützt damit einen geschätzten Umsatz von 250 Millionen US-Dollar.
Diese Kapazität hebt Navitas auf eine neue Ebene der betrieblichen Effizienz und der Branchenführerschaft in der Chipfertigung.
Durch Zusammenarbeit zum Erfolg: Ein gemeinsamer Fokus auf Leistung, Flexibilität und Kosteneffizienz
Während des gesamten Projekts arbeiteten ipTEST und MPI eng zusammen, um eine nahtlose Integration zu gewährleisten, die die technischen und betrieblichen Ziele von Navitas erfüllt.
Ihre gemeinsamen Bemühungen konzentrierten sich auf drei Schlüsselbereiche:
Anforderungsabgleich
Die Teams begannen damit, die Teststrategie klar zu definieren: welche Testpläne implementiert werden sollten, welche Testressourcen benötigt wurden und wie das System in die bestehende Fabrikinfrastruktur integriert werden sollte. Besonderes Augenmerk wurde auf die Identifizierung der zu erfassenden Fertigungsfehler und der zu überwachenden Leistungsindikatoren gelegt.
Skalierbare Innovation
Kosteneffiziente Architektur
Eine strategische Entscheidung, die durch Leistung gestützt wird
Navitas führte eine gründliche Evaluierung mehrerer Testkonfigurationen durch, bevor die Wahl auf die ipTEST-MPI-Lösung fiel. Ausschlaggebend für die Entscheidung war die bewährte Fähigkeit der Plattform, Hochgeschwindigkeits- und Hochpräzisionstests zu liefern, gepaart mit der Präzision und Zuverlässigkeit der MPI-Wafer-Probing-Systeme.
Die Kombination aus dem ipTEST M2 Tester und den MPI TS2500 Probern bot eine erstklassige Lösung für die fortschrittlichen Testanforderungen von Navitas - ein Gleichgewicht zwischen Durchsatz, Flexibilität und Kosteneffizienz. Diese robuste Testzellenkonfiguration erfüllte nicht nur die unmittelbaren Produktionsanforderungen des Unternehmens, sondern positionierte es auch für einen langfristigen Erfolg auf dem sich schnell entwickelnden Markt für Leistungshalbleiter.
Positioniert für die Zukunft der Leistungshalbleiterfertigung
Dieser Einsatz stellt einen wichtigen Meilenstein in der Produktionsstrategie von Navitas dar. Die neue Testzelle unterstützt nicht nur die aktuellen Produktionsziele, sondern bietet auch die nötige Skalierbarkeit für eine zukünftige Expansion in der Halbleiterindustrie.
"Die ipTEST-Hochspannungsplattform unterstützt bis zu 10 kV und rationalisiert das Testen durch die Kombination von On-Wafer-UIS- (Avalanche-) und DC-Messungen in einem einzigen Durchgang - ein Vorgang, für den die meisten Systeme zwei separate Schritte benötigen. Die Fehlersuche ist einfach, die minimale Einrichtung und die integrierte Wellenformerfassung bieten wertvolle Einblicke in die Testergebnisse. Die mitgelieferten Handprüfvorrichtungen sind nützlich, um Probleme zu erkennen und Prüfpläne effizient zu erstellen. Die Testausführung ist schnell, und die Software ist so konzipiert, dass die Programmierung und das Binning übersichtlich und zugänglich sind. Die Ausführung von ipTEST in einer Linux-Umgebung unterstützt auch die Automatisierung und ermöglicht die Integration mit Python-Skripten und gängigen Freeware-Tools für die Datenanalyse. Insgesamt hat diese Einrichtung die Effizienz unserer Hochspannungstests und Automatisierungsabläufe erheblich verbessert."
Vamsi Mulpuri, Direktor für Produkt- und Zuverlässigkeitsentwicklung
Durch die Partnerschaft mit ipTEST und MPI hat Navitas sein Engagement für Innovationen im Bereich der Halbleiterprüfung bekräftigt und die Lieferung von hochzuverlässiger Leistungselektronik der nächsten Generation an die globalen Märkte ermöglicht.