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Hiden Analytical führt die ToF-qSIMS Workstation ein

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Einzigartige Kombination von Flugzeit- und Quadrupol-Analysatoren in einem einzigen SIMS-Gerät

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Die ToF-qSIMS-Workstation von Hiden kombiniert auf einzigartige Weise Flugzeit- und Quadrupol-Analysatoren in einem einzigen SIMS-Gerät. Die Oberfläche ist der Ort, an dem Materialien mit der Umwelt interagieren, an dem Adhäsion, Ablagerung, Korrosion und Kontamination auftreten, und das ToF-qSIMS ist das Werkzeug zur Charakterisierung und Lösung von Problemen in diesem Bereich. Der ToF-Analysator verfügt über einen großen Massenbereich und eine hohe Massenauflösung, so dass der statische SIMS-Modus zur Identifizierung von Spezies auf der exponierten Oberfläche eines Materials, insbesondere von organischen Stoffen, eingesetzt werden kann. Es kann Oberflächenverunreinigungen erkennen, die so dünn wie ein Atom sind; Verunreinigungen, die sich später auf den Betrieb des Produkts auswirken können, z. B. das Versagen einer Klebeverbindung oder das Abblättern einer Beschichtung. In einem einzigen Scan erzeugt das ToF-qSIMS ein Bild aller Elemente und Moleküle einer Oberfläche (ein vollständiges Massenspektrum für jedes Pixel), so dass ein Wissenschaftler die chemische Verteilung untersuchen kann, entweder in Echtzeit oder möglicherweise Jahre nach der Aufnahme.

Der Quadrupol-Analysator wird für hochempfindliche "Tiefen"-Messungen mit einer Genauigkeit im Nanometerbereich eingesetzt, z. B. zur Bestimmung der Diffusion oder der Schichtstruktur in harten technischen oder Halbleitermaterialien. Mit der Fähigkeit, alle Elemente von Wasserstoff bis Uran zu detektieren und ihre Verteilung in 3D abzubilden, bietet er eine sehr leistungsfähige Methode zur Charakterisierung der obersten Mikrometer eines Materials.

Die ToF-qSIMS-Workstation ist mit der äußerst zuverlässigen Gasionenquelle IG20 von Hiden ausgestattet und lässt sich dank automatischer Einstellungen leicht in einer Produktionsumgebung einsetzen, während Forscher die erweiterten Einstellungen dieses vielseitigen Tools nutzen können. SIMS findet breite Anwendung in der Halbleiter-, Photovoltaik-, Luft- und Raumfahrt-, Beschichtungs-, Pharma- und Glasindustrie sowie in der allgemeinen Material-, Metallurgie- und Korrosionsanalyse.