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Kelvin-Sondenkraftmikroskopie (KPFM)

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Theorie und Anwendung

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Die Kelvin-Sondenkraftmikroskopie (KPFM), auch bekannt als Oberflächenpotentialmikroskopie, ist ein Mitglied einer Reihe von elektrischen Charakterisierungsmethoden, die in Rasterkraftmikroskopen zur Verfügung stehen. Sie bildet die Kontaktpotenzialdifferenz (CPD) zwischen einer Oberfläche und dem Cantilever ab und enthält Informationen über das Oberflächenpotenzial und die Arbeitsfunktion. Die Arbeitsfunktion ist in der Festkörperphysik definiert als die Energie, die benötigt wird, um ein Elektron aus dem Fermi-Niveau eines Festkörpers in das Vakuum zu entfernen, und ist somit eine Oberflächeneigenschaft und nicht auf das Volumen bezogen.

Dieser Artikel beschreibt, wie KPFM funktioniert, und beschreibt mehrere Beispiele für KPFM-Messungen.