#Produkttrends
Neues 0.6X Objektiv als Bindeglied in der Oberflächenanalyse
Mikrostrukturen und Formparameter großflächig in einem messen
Um die Grenzen zwischen mikro- und makroskopischer Betrachtung fließend zu gestalten, hat Polytec das eigene 0.6X-Objektiv für seine Oberflächenprofilometer entwickelt! In der Qualitätskontrolle von Präzisionsbauteilen, Optiken oder Mikrosystemen sind meist mehrere Parameter relevant: zum Beispiel die Ebenheit einer Dichtfläche, die exakte Stufenhöhe zu einer benachbarten Teilfläche sowie Einhaltung der Mindestrauheit zur Schmierung. Das Profilometer Micro.View+ bietet neben Autofokus und automatischer Fokusverfolgung auch einen automatischen Revolver – nun mit Vergrößerungen von 0,6X (bis 111X) erweitert sich sein Einzelmessfeld auf 15.53 x 11.71 mm², womit es nicht nur Rauheit, Strukturdetails und Mikrotopografie berührungsfrei erfasst, sondern fließend auch die Ebenheit an größeren Flächen schneller und effizienter misst. Mit einem Arbeitsabstand von 9.2 mm bietet es einen Messpunktabstand von 9.76 µm.
