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Oberflächeninspektion an geschliffenen, polierten oder feinbearbeiteten Flächen
Optische 3D-Profilometer mit größerem Bildfeld und [sub]-nm Auflösung
Für die Qualitätskontrolle von Präzisionsbauteilen bietet die optische Oberflächenmesstechnik entscheidende Vorteile zur Inspektion von Schleifflächen, beim Läppen und Polieren. Die optischen Profiler der TopMap Reihe charakterisieren die Form, Maßhaltigkeit, Oberflächenbeschaffenheit oder Textur in 3D durch schnelles und großflächige Scanning Messungen. Lösen Sie Ebenheit, Textur und Stufen im nm-Bereich auf. Sichern Sie Ihre Qualität bei polierten Optiken, geschliffenen Metallteilen oder Dichtflächen und mehr. Egal ob matt oder glänzend, diese Weißlichtinterferometer liefern wiederholbare und zuverlässige Topografiemessungen auf glatten bis rauen Oberflächen.
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