Zu meinen Favoriten hinzufügen
Automatische Übersetzung anzeigen
Dies ist eine automatisch generierte Übersetzung. Wenn Sie auf den englischen Originaltext zugreifen möchten,
klicken Sie hier
#White Papers
{{{sourceTextContent.title}}}
Weißbuch: Fractional-Pixel-Methode zur verbesserten Pixel-Level-Messung und -Korrektur (Demura) von hochauflösenden Displays
{{{sourceTextContent.subTitle}}}
Eine fraktionierte Pixelregistrierungs- und Messmethode verbessert die Genauigkeit von Werten auf Pixelebene, die von Systemen mit Standardauflösung gemessen werden, und gewährleistet eine effektive Qualifizierung und Demura von hochauflösenden OLED-, MiniLED- und MikroLED-Displays.
{{{sourceTextContent.description}}}
Mit der Zunahme der Bildschirmauflösungen stehen die Bildgebungssysteme vor der Herausforderung, weiterhin genaue Messungen auf Pixelebene zu liefern und gleichzeitig eine zunehmend begrenzte relative Bildauflösung bei der Einzelbildanalyse (notwendig für die Produktionseffizienz) anzuwenden. Eine fraktionierte Pixelregistrierungs- und Messmethode verbessert die Genauigkeit der von Systemen mit Standardauflösung gemessenen Werte auf Pixelebene und gewährleistet eine effektive Qualifizierung und Demura von hochauflösenden OLED-, MiniLED- und MikroLED-Displays.
In diesem Weißbuch erfahren Sie mehr darüber:
- Die Bedeutung der Messung auf Pixelebene zur Bewertung und Korrektur der Gleichförmigkeit in emissiven Displays
- Unzulänglichkeiten traditioneller Messmethoden bei der Anwendung für zunehmend hochauflösende Displays
- Verbesserung der Messgenauigkeit bei der Einzelbildanalyse (Messung aller Pixel im Display auf einmal) zur Sicherung der Produktionseffizienz
- Die Methode der gebrochenen Pixel: ihr Ansatz und ihre Genauigkeit im Vergleich zu den traditionellen Methoden mit "ganzen" Pixeln