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Messen und Korrigieren der Uniformität von MicroLED-Displays

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Methoden zur Messung von Subpixel-Luminanz und Chromatizität für Korrekturen (Demura) und Qualitätskontrolle

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MicroLEDs demonstrieren weiterhin Leistungsvorteile für Displays und leiten eine neue Generation von Hintergrundbeleuchtung und Direktsicht-Beleuchtungstechnologie ein. Diese anorganischen emissiven Elemente bieten viele Vorteile gegenüber anderen Display-Technologien, einschließlich hoher Helligkeit und Kontrast, breiter Farbskala, Langlebigkeit und hoher Pixeldichte. Allerdings müssen die Herausforderungen, die mit der Herstellung von qualitativ hochwertigen microLED-Panels verbunden sind, angegangen werden, bevor eine praktikable Massenproduktion und Kommerzialisierung erreicht werden kann

Als einzelne emittierende Elemente weisen microLEDs in der Regel Leuchtdichte- und Farbvariationen auf Pixelebene auf. Diese Schwankungen erfordern, dass jede microLED individuell gemessen und eingestellt wird, um eine visuelle Einheitlichkeit über das gesamte Display zu gewährleisten. Daher muss ein Mess- und Korrektursystem für die Herstellung von Mikro-LEDs in der Lage sein, die Leistung jedes einzelnen emittierenden Elements (der einzelnen LED oder des Subpixels) präzise zu quantifizieren, und zwar mit sehr geringen Taktzeiten, um die hohe Anzahl von Emittern in einem einzigen Display zu korrigieren und um abfallarme, hochvolumige Produktionsprozesse zu unterstützen