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#Neues aus der Industrie
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MIL-PRF-38534 SANWOOD Technology Hochbeschleunigte Stresstestkammer: Sicherstellung der Halbleiter-Zuverlässigkeit
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SANWOOD Highly Accelerated Stress Test Chamber unterstützt Halbleiter-Zuverlässigkeitstests unter extremen Bedingungen gemäß MIL-PRF-38534.
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In der Halbleiterindustrie ist die langfristige Produktzuverlässigkeit ein wichtiger Indikator für den Wert eines Produkts. Die Überprüfung der Lebensdauer von Bauteilen unter natürlichen Bedingungen dauert Jahre, was den heutigen, sich schnell wiederholenden F&E- und Produktionszyklen nicht gerecht wird. Die Highly Accelerated Stress Test Chamber von SANWOOD Technology simuliert extreme Umgebungen mit hoher Temperatur, hoher Luftfeuchtigkeit und hohem Druck und beschleunigt den Alterungsprozess im Labor. Sie kann potenzielle Probleme wie die Unversehrtheit des Gehäuses, die Beeinträchtigung der elektrischen Leistung und die Materialverschlechterung bei Halbleiterbauelementen nach Langzeitbetrieb innerhalb von Tagen oder Wochen genau beurteilen und so wichtige Daten für die Produktlebensdauer liefern.
HAST zielt darauf ab, die Qualifizierung zu beschleunigen, d. h. fehlerhafte Designs oder Prozesse für die Forschung und Entwicklung sowie die Zertifizierung schnell zu identifizieren. Im Vergleich zu herkömmlichen Tests bei konstanter Temperatur und Luftfeuchtigkeit wird bei HAST gesättigter Wasserdampf unter hohem Druck eingesetzt, um eine strengere Testumgebung zu schaffen und die Testzeit von Tausenden von Stunden auf Hunderte oder sogar Dutzende von Stunden zu verkürzen, ohne dass es zu unverbundenen Ausfällen kommt.
MIL-PRF-38534 ist eine Hochleistungs- und Zuverlässigkeitsspezifikation, die vom US-Verteidigungsministerium für hybride Mikroschaltungen entwickelt wurde. Sie schreibt keine konkreten Konstruktions- und Fertigungsdetails vor, sondern legt ein strenges Zertifizierungs- und Qualitätssicherungssystem fest, mit dem sichergestellt werden soll, dass die Produktionslinien der Hersteller in der Lage sind, durchgängig äußerst zuverlässige Produkte herzustellen, die den Anforderungen extrem anspruchsvoller Umgebungen gerecht werden.
Parameter der SANWOOD Technology's Highly Accelerated Stress Test Chamber
Die hochbeschleunigte Stresstestkammer von SANWOOD Technology kann entsprechend den Kundenanforderungen angepasst werden. Die grundlegenden technischen Parameter sind wie folgt:
Temperaturbereich: +105℃~+133℃
Luftfeuchtigkeitsbereich: 65% RH~100% RH
Druckregelbereich: 0.5~2.3kg/cm² (0.05~0.23Mpa)
Eigenschaften der SANWOOD Technologie Hochbeschleunigte Belastungstestkammer:
1. Es kann Wasserdampf in einem flüssigen oder ungesättigten Zustand auch bei Temperaturen von über 100℃ halten, wodurch eine Umgebung mit hoher Temperatur und hoher Luftfeuchtigkeit geschaffen wird.
2. Es zeichnet Temperatur-, Feuchtigkeits- und Druckkurven während des Tests auf und kann die Daten zur einfachen Rückverfolgbarkeit und Analyse über einen USB-Stick in eine Excel-Datei exportieren. Es unterstützt die Datenübertragung über Ethernet- und RS-485-Kommunikationsschnittstellen.
3. Zu den HAST-Testbedingungen gehören 130℃, 85 % relative Luftfeuchtigkeit, 230 kPa atmosphärischer Druck und eine Testdauer von 96 Stunden.
Auf dem immer stärker umkämpften globalen Halbleitermarkt ist überragende Zuverlässigkeit der Eckpfeiler des Markenrufs und der zentralen Wettbewerbsfähigkeit. Die Wahl effizienter und genauer Lösungen für Zuverlässigkeitstests ist unter führenden Unternehmen zum Konsens geworden. SANWOOD Technology's hochbeschleunigte Stresstestkammer, die auf strengen Standards wie MIL-PRF-38534 basiert, bietet Unternehmen eine zuverlässige Testgarantie und hilft den Kunden, die Produktqualität zu verbessern, Marktrisiken zu minimieren und somit einen dauerhaften Wettbewerbsvorteil und eine technologische Barriere in High-End-Anwendungsbereichen zu schaffen. Wenn Sie professionelle Testlösungen benötigen, wenden Sie sich bitte an Sanwood Technology und wir werden Ihnen maßgeschneiderte, professionelle Dienstleistungen anbieten.