{{{sourceTextContent.title}}}

Beugung des Röntgenstrahl-ADX-2500 (XRD)

{{{sourceTextContent.subTitle}}}

Röntgenstrahl-Beugung (XRD)

{{{sourceTextContent.description}}}

Beugung des Röntgenstrahl-ADX-2500 (XRD) ist für Anwendung im Mikrostrukturmaß, in der Prüfung und ausführlichen in den Forschungsuntersuchungen bestimmt. Mit verschiedenen Zusätzen und der entsprechendes Steuer- und Berechnungs-Software ist- ADX-2500 XRD ein Beugungssystem entsprechend den praktischen Anforderungen auf vielen Gebieten.

Röntgendiffraktometer ADX-2500 liefert die Strukturanalyse der einzelnen Kristall-, polykristallinen und formlosen Probe. ADX-2500 X Ray Diffraction ist zum folgenden fähig: qualitative Analyse der Phase und quantitative Analyse (RIR, interne Standardkalibrierung, externe Standardkalibrierung, additives Kriterium), Musterindex-bewegung, Einheitszellbestimmung und -verfeinerung, Kristallitgröße und Belastungsbestimmung, Profilinstallation und Strukturverfeinerung, Eigenspannungsbestimmung, Beschaffenheitsanalyse (ODF drückt dreidimensionale Pfostenzahl) aus, Kristallinitätsschätzung von den Höchstbereichen, Dünnfilmanalyse und andere.