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Herausforderungen für Teststeckdosen mit einer Datenrate von 224 Gbit/s

In diesem Webinar werden wir die Herausforderungen bei der Entwicklung und Herstellung einer elektromechanischen Schnittstelle zum Testen eines integrierten Schaltkreises mit einer Datenrate von 224 Gbit/s erörtern. Wir werden die Hindernisse bei der Arbeit in einer vollständig simulierten Umgebung und unsere Produkte erörtern, die die Anforderungen der nächsten Generation integrierter Schaltungen erfüllen können. Insgesamt ist der Einsatz einer optimierten Hardware-Infrastruktur, die Hochleistungs-Computersysteme, spezialisierte KI-Beschleuniger, effiziente Verbindungen, Speicherlösungen und Software-Frameworks kombiniert, unerlässlich, um das volle Potenzial von KI-Chips der nächsten Generation auszuschöpfen.