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Spitzentechnologie für die Oberflächenprofilierung

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Spitzentechnologie für die Oberflächenprofilierung

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Wir freuen uns, Ihnen mitteilen zu können, dass Top Seiko ein Oberflächenprofilmessgerät (MicroProf®200) der deutschen Firma FRT eingeführt hat.

Damit können wir Oberflächenprofile und Dickenschwankungen (TTV) mit hoher Präzision für Größen bis zu φ200 messen.

Der MicroProf®200 ist mit einer fortschrittlichen berührungslosen Messtechnik ausgestattet, die hochgenaue 3D-Oberflächenscans ermöglicht.

Dieses Präzisionswerkzeug erweitert unsere Möglichkeiten in der Qualitätskontrolle und Produktentwicklung und stellt sicher, dass wir die strengen Anforderungen von Branchen wie Luft- und Raumfahrt, Medizin und Halbleiter erfüllen.

Bei einem kürzlich durchgeführten Projekt, bei dem es um Maschinenteile für die Halbleiterindustrie ging, wurde der MicroProf®200 beispielsweise eingesetzt, um die Oberflächenprofile und Dickenschwankungen eines präzisen Bauteils aus SiC-Platten zu messen.

Die detaillierten 3D-Scans des Profilers ermöglichten es uns, sehr feine Oberflächenunregelmäßigkeiten und Dickenschwankungen zu erkennen und zu analysieren.

Mit der Fähigkeit, schnelle und zuverlässige Messungen durchzuführen, verbessert der MicroProf®200 unsere Effizienz und die Konsistenz unserer Qualitätsprüfungen erheblich. Diese Ergänzung unserer Gerätepalette zeigt unser Engagement, in die neuesten Technologien zu investieren, um unsere Kunden besser bedienen zu können.

Wenn Sie mehr darüber erfahren möchten, wie der MicroProf®200 Ihre Projekte unterstützen kann, kontaktieren Sie uns bitte!