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Entdecken Sie den NX-Tip Scan-Kopf von Park - ein automatisiertes Rasterkraftmikroskopie (AFM)-System zur Messung extrem großer und schwerer Flachbildschirme im Nanobereich

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Automatisiertes AFM-System für extrem große und schwere Flachbildschirme

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Als Antwort auf die steigende Nachfrage nach AFM-basierter Metrologie an größeren Flachbildschirmen hat Park Systems den NX-Tip Scan-Kopf eingeführt, der die Herausforderungen der Nanometrologie bei Probenabmessungen von über 300 mm und Gewichten von über 1 kg bewältigt. Der Tip Scanning Head (TSH) ist ein Kopf mit beweglicher Spitze, der speziell für automatisierte AFM-Messungen und -Analysen an großen Proben wie OLED- und LCD-Bildschirmen entwickelt wurde