Neuer Kepler-Testsockel

Hochleistungs-Scrub-Kontakttechnologie für periphere ICs.

Die Kepler-Kontakttechnologie kombiniert die Schleifbewegung eines Auslegerkontakts mit der Vielseitigkeit und Modularität einer Federsonde. Das Design beinhaltet eine horizontale Bewegung während des Abwärtshubs des Geräts, um Oberflächenoxide zu entfernen, einen stabilen und zuverlässigen Kontakt zu gewährleisten und keine Schäden an der Leiterplatte zu verursachen.