On-Demand-Webinar

Kann KI ihre eigene Zuverlässigkeit vorhersagen? Zuverlässigkeitstests für SoCs der nächsten Generation

In diesem Webinar werden wir die Segmenttrends für KI-Beschleuniger-Prozessoreinheiten (APUs) und Tensor Processing Units (TPUs) der nächsten Generation untersuchen. Wir geben einen Überblick über den Markt und beleuchten das Wachstum des Segments und seine Auswirkungen auf die Halbleiterindustrie als Ganzes.

Außerdem werden wir die Herausforderungen bei der Herstellung untersuchen, die die Produktleistung während der Zuverlässigkeitsprüfung dieser Geräte erheblich beeinflussen. Da viele System-on-Chip (SoC)-Bauteile von 9.000 Eingangs-/Ausgangskanälen und einer thermischen Entwurfsleistung (TDP) von 850 W auf Kunden-Roadmaps mit 12.000 E/A-Kanälen und TDPs von über 1.500 W angewachsen sind, stellen die zunehmende Größe und Komplexität neue Herausforderungen dar.