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PRECISE Instrument präsentierte die Lösung zum Testen statischer Parameter von Leistungsgeräten auf dem China Optics Valley Jiufengshan Forum
Wang Cheng, stellvertretender Generaldirektor des Unternehmens, hielt eine Rede.
Der rasante Aufstieg neuer Halbleitermaterialien, repräsentiert durch Verbindungshalbleiter, wird einen entscheidenden Einfluss auf die Neugestaltung der internationalen Struktur der Halbleiterindustrie in den nächsten 10 Jahren haben. Um sich weiter auf die neuesten Entwicklungen in Verbindungshalbleitertechnologien und -anwendungen wie internationale Halbleiteroptoelektronik, Halbleiterlaser und Leistungshalbleiterbauelemente zu konzentrieren und die umfassende und umfassende Entwicklung der Verbindungshalbleiterindustrie zu fördern. Vom 19. bis 21. April fand in Wuhan das erste China Optics Valley Jiufengshan Forum und die Konferenz zur Entwicklung der Verbindungshalbleiterindustrie statt. Mit Unterstützung der Provinzregierungen von Hubei und der Stadtverwaltung von Wuhan wird das Forum gemeinsam vom Verwaltungsausschuss der Wuhan East Lake New Technology Development Zone, der Third Generation Semiconductor Industry Technology Innovation Strategic Alliance (CASA), dem Jiufengshan Laboratory und Optics Valley ausgerichtet Allianz der Innovationsplattform für integrierte Schaltkreise.
Das Thema dieses Forums lautet „Gipfel erklimmen, Weisheit sammeln und die Zukunft inspirieren“. Es wird drei Tage dauern. Durch das Eröffnungstreffen, parallele Foren zu fünf Hauptthemen und den Austausch von Berichten zu mehr als 70 Sitzungsthemen sind mehr als 500 Unternehmensvertreter eingeladen, über Verbindungshalbleiter zu diskutieren. Neue Trends in der industriellen Entwicklung, neue Chancen in der Branche und bahnbrechende neue Technologien.
Als führender Anbieter von optischer Kommunikations- und Halbleitertestausrüstung in China brachte Wuhan PRECISE in dieser Zeit Impulsquellenmessgeräte für die Prüfung von Leistungsgeräten, 1000-A-Hochstrom-Impulsstromversorgungen (mehrere Einheiten, die parallel zu 6000 A geschaltet sind), 3,5-kV-Hochstrom-Impulsstromversorgungen mit. Spannungsquellen-Testgeräte (erweiterbar auf 10 kV) und die 100-ns-Lidar-VCSEL-Wafer-Testmaschine wurden auf der Konferenz vorgestellt. Wang Cheng, stellvertretender Geschäftsführer des Unternehmens, wurde eingeladen, das Thema „Untersuchung der Einflussfaktoren beim Test statischer Parameter von Leistungsgeräten“ vorzustellen.
