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PRECISE Instrument – eine neue Generation von I-V-Testlösungen für Halbleiter-Hochgeschwindigkeitsgeräte
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Wie lässt sich mit der rasanten Entwicklung und innovativen Anwendung neuer III-V-Halbleitermaterialien auf einfache Weise eine ultraschnelle Messung der Eigenschaften von Galliumnitrid (GaN), Galliumarsenid (GaAs) und anderen Verbindungshalbleitern wie der DC-Messung von I-V-Quellen und dem Messbetrieb erreichen? ? Wie kann ich die Eigenerwärmung des Geräts verhindern, indem ich anstelle von Gleichstromsignalen schmale Impulse und/oder Impulse mit niedrigem Tastverhältnis verwende? Wie können die Anwendungsanforderungen erfüllt werden, die sowohl eine ultraschnelle Spannungsausgabe als auch eine gleichzeitige hochempfindliche Strommessung erfordern?
Die Antwort der von PRECISE Instruments eingeführten I-V-Testlösung für Halbleiter-Hochgeschwindigkeitsgeräte auf NS-Ebene lautet: „Voll zufrieden!“
Steckkartendesign + 1 Kanal/Steckkarte + bis zu 10 Kanäle, PRECISE-Instrument der neuen Generation Impuls-Konstantspannungsquelle CP5xx-Serie
