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Wie führt man einen Alterungstest für Hochleistungslaser durch?

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PRECISE NEWS

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Aus struktureller Sicht werden Hochleistungs-Halbleiterlaser hauptsächlich in zwei Strukturen unterteilt: Einzelröhre und Stab. Die Ein-Rohr-Struktur nimmt meist das Design der breiten Bar und große optische Kavität, und erhöht die Verstärkung Bereich zu erreichen hohe Leistung und reduzieren Kavität Oberfläche Katastrophe. Bei der Barrenstruktur handelt es sich um eine parallele lineare Anordnung mehrerer Einzelröhrenlaser, bei der mehrere Laser gleichzeitig arbeiten und eine hohe Laserleistung durch Strahlenbündelung und andere Mittel erreicht wird. Was die Verpackungsarten angeht, so gibt es zwei Arten von Verpackungen für Halbleiterlaser: die Schutzhülle und die Chipverpackung. Zu den Schutzgehäusen gehören hauptsächlich T-Mount-Gehäuse und Butterfly-Gehäuse usw. Zu den Chip-Verpackungen gehören vor allem F-Mount-Verpackungen, C-Mount-Verpackungen, usw. Obwohl Hochleistungs-Halbleiterlaser weit verbreitet sind, ist die Wärmeentwicklung pro Flächeneinheit aufgrund der hohen Lichtausgangsleistung eines einzelnen Chips groß. Wenn die Wärmeableitung nicht gut funktioniert, werden die Lebensdauer und die Zuverlässigkeit von Halbleiterlasern direkt beeinträchtigt.

Daher müssen Hochleistungs-Halbleiterlaser unter extremen Bedingungen wie hohen Temperaturen und Stromstärken auf ihre Lebensdauer und Zuverlässigkeit getestet werden, bevor sie das Werk verlassen. Bei der Prüfung treten jedoch in der Regel einige Probleme auf:

1. Während des LlV-Tests werden die fotoelektrischen Parameter durch Wärme stark beeinträchtigt

2. Die Testergebnisse bei Gleichstrom und breitem Impuls sind ungenau

3. Hochleistungslaser haben eine schlechte Stoßfestigkeit

4. Die Schwankungen der Stromversorgung beeinträchtigen die Lebensdauer des Lasers

Wie kann man ihn also richtig testen?

Diodenlaser-Alterungsprüfsystem für hohe Leistung

Für Hochleistungs-Halbleiterlaser im Kilowattbereich hat PRECISE ein Alterungsprüfsystem für Hochleistungslaser mit ausgezeichnetem Preis-Leistungs-Verhältnis entwickelt. Die Anlage kann auf eine 4-Schicht-Struktur erweitert werden, und jede Schicht ist mit mehreren Kanälen ausgestattet. Jeder Kanal unterstützt die serielle Alterung von 1-16 Laserchips.

Hochleistungs-Laser-Alterungsprüfsystem der LDI-Serie

Das System umfasst eine Hochtemperatur-Umgebungskontrolleinrichtung, eine Gleichstrom- oder Impulsantrieb-Stromversorgung, eine Lichtempfangseinrichtung, eine optische Faser, ein Spektrometer (optional), ein Kühlsystem mit zirkulierendem Wasser, eine kundenspezifische Halterung, einen Temperatursammler und einen Host-Computer, usw. Unter ihnen ist die Stromversorgung neu entwickelt und unabhängig von PRECISE HCPL Serie High-Power-Laser-Test-Stromversorgung konzipiert. 60A CW-Betrieb, 600A QCW-Betrieb